<주요 용도>
자동차 부품, 전기, 전자부품, 정밀기기, 반도체, 항공산업 등 공업제품의 연구개발, 반도체 소자 성능 검증 및 품질개선의 분야에서 널리 사용되고 있는 기기이며 특히 자동차부품의 품질개선 및 신제품 개발에 유용한 장비이며 순간적 열적 충격에 의한 제품의 특성 및 품질확보를 위하여 고장을 사전에 방지하기 위한 신뢰성 시험 장비임.
<주요 사양>
- Temperature Range
High. Temp. Chamber : (+60 ~ +200) ℃
Low Temp. Chamber : (-70 ~ 0) ℃
- Temp. Fluctuation : ±0.5 ℃
- Inside Dimension : (W)650 x (H)460 x (D)670
- Power Source : AC 380 V 3 φ60 Hz